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第三讲 闪存性能和可靠性优化:从芯片、控制器到系统

日期: 2017-02-28
撰稿人:

 闪存性能和可靠性优化:从芯片、控制器到系统

一、讲座详情

演讲题目:闪存性能和可靠性优化:从芯片、控制器到系统

演讲时间:2016年12月14日(星期三)12:10 - 13:10

演讲地点:清华大学罗姆楼10-206室

主讲人:薛春 香港城市大学副教授

二、  主讲人介绍

1993-1997      德州大学阿灵顿分校 计算机工程,建筑        学士

2001-2003      德州大学达拉斯分校 计算机科学                  硕士

2003-2007      德州大学达拉斯分校 计算机科学                  博士

现任香港城市大学计算机科学系副教授。他的研究兴趣包括非易失性存储器,嵌入式和实时系统。他目前是嵌入式计算系统ACM事务副主编,CPS ACM事务副主编,ACM事务存储相关编辑。他是TPC共同主席,2015年LCTES共同主席,ISVLSI2016的TPC共同主席,并在DAC,DATE,RTSS,RTAS,CODES,EMSOFT和ISLPED等顶级会议上担任TPC成员。

三、演讲内容

本次讲座将包括三个部分。第一部分将介绍Flash芯片级设计的背景和相关工作。由于写入数据的质量和可靠性与Flash编程速度高度相关,因此如何利用这些特性对于基于闪存的存储系统很重要。此外,现有技术的闪存存在可靠性降低以及显着的工艺变化。为了应对这些问题,将提出一些优化闪存存储器的性能和可靠性的工作。第二部分将介绍闪存控制器设计的工作,包括性能的并行性探索和错误纠正码优化可靠性。我们特别感兴趣的是低密度奇偶校验码,其具有良好的纠错能力,但在解码性能方面具有高成本。我们还将讨论如何利用重要的工艺变化来提高性能和寿命。第三部分将讨论基于闪存的存储设备的系统级的工作。闪存存储器的当前系统尚未充分利用闪存的特性。在这部分,我将介绍关于智能手机上的碎片问题的工作,并讨论跨层支持的I / O调度算法,以实现性能提高。

 

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