![闪存性能和可靠性优化：从芯片、控制器到系统]( "闪存性能和可靠性优化：从芯片、控制器到系统")
一、讲座详情
演讲题目：闪存性能和可靠性优化：从芯片、控制器到系统
演讲时间：2016年12月14日（星期三）12:10 - 13:10
演讲地点：清华大学罗姆楼10-206室
主讲人：薛春 香港城市大学副教授
二、 主讲人介绍
1993-1997 德州大学阿灵顿分校 计算机工程，建筑 学士
2001-2003 德州大学达拉斯分校 计算机科学 硕士
2003-2007 德州大学达拉斯分校 计算机科学 博士
现任香港城市大学计算机科学系副教授。他的研究兴趣包括非易失性存储器，嵌入式和实时系统。他目前是嵌入式计算系统ACM事务副主编，CPS ACM事务副主编，ACM事务存储相关编辑。他是TPC共同主席，2015年LCTES共同主席，ISVLSI2016的TPC共同主席，并在DAC，DATE，RTSS，RTAS，CODES，EMSOFT和ISLPED等顶级会议上担任TPC成员。
三、演讲内容
本次讲座将包括三个部分。第一部分将介绍Flash芯片级设计的背景和相关工作。由于写入数据的质量和可靠性与Flash编程速度高度相关，因此如何利用这些特性对于基于闪存的存储系统很重要。此外，现有技术的闪存存在可靠性降低以及显着的工艺变化。为了应对这些问题，将提出一些优化闪存存储器的性能和可靠性的工作。第二部分将介绍闪存控制器设计的工作，包括性能的并行性探索和错误纠正码优化可靠性。我们特别感兴趣的是低密度奇偶校验码，其具有良好的纠错能力，但在解码性能方面具有高成本。我们还将讨论如何利用重要的工艺变化来提高性能和寿命。第三部分将讨论基于闪存的存储设备的系统级的工作。闪存存储器的当前系统尚未充分利用闪存的特性。在这部分，我将介绍关于智能手机上的碎片问题的工作，并讨论跨层支持的I / O调度算法，以实现性能提高。